ASTM E 1217-2005 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 19:26:18  浏览:9349   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardPracticeforDeterminationoftheSpecimenAreaContributingtotheDetectedSignalinAugerElectronSpectrometersandSomeX-RayPhotoelectronSpectrometers
【原文标准名称】:用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
【标准号】:ASTME1217-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;俄歇电子光谱法;精整;金属;工艺;信号;光谱学;表面;试样;X射线
【英文主题词】:Analysis;Augerelectronspectroscopy;Finishes;Metals;Processes;Signals;Spectroscopy;Surfaces;Testspecimens;X-rays
【摘要】:
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语